VoLTE MOS专题分析报告

VoLTEMOS专题分析：MOS值的影响因素为：测试操作、MOS评估算法、终端/音频线、语料选取、协商编码、RTP丢包、时延/抖动。造成以上MOS的影响因素的原因为：测试规范和设备因素（包括：测试规范、设备差异）、核心网/传输（影响协商编码，包括：网络参数、终端能力、覆盖/干扰、回落2G）、无线优化（包括：覆盖/干扰、传输/边际网、频繁切换、高负荷/故障、参数配置、X2状态和重建）。