VoLTE MOS专题分析报告
VoLTEMOS专题分析:MOS值的影响因素为:测试操作、MOS评估算法、终端/音频线、语料选取、协商编码、RTP丢包、时延/抖动。造成以上MOS的影响因素的原因为:测试规范和设备因素(包括:测试规范、设备差异)、核心网/传输(影响协商编码,包括:网络参数、终端能力、覆盖/干扰、回落2G)、无线优化(包括:覆盖/干扰、传输/边际网、频繁切换、高负荷/故障、参数配置、X2状态和重建)。
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