论文研究 Zr修饰Ba的阻抗谱

Ba5SmZr3V7O30是一种新型的钨青铜结构陶瓷化合物，它是通过按照高温固态反应路线将Zr替换在Ba5GdTi3V7O30中的Ti部位而制成的。该化合物的X射线衍射分析证实了室温下单相正交晶结构的形成。通过扫描电子显微镜研究该化合物的表面形态。使用HiokiLCR测量仪，研究了温度（32℃-500℃）和频率（102-106Hz）对结构和电性能的影响。阻抗参数的详细分析为材料的电特性和弛豫过程的类型提供了更好的概念。Z'〜频率图的平稳区域也表明材料中存在弛豫过程。观察到体电阻随着温度的升高而减小，显示出典型的负电阻温度系数（NTCR）行为。