如何提高抗随机图形设计的故障覆盖率

上传：qq_90327 浏览： 5 推荐： 0 文件：PDF 大小：79.48KB 上传时间：2020-08-23 01:06:07 版权申诉

因LBIST向量的随机本性,采用LogicBIST设计会表现出抗随机模型的趋向,从而导致低的故障覆盖范围。为解决该问题,我们借助抗随机故障分析(RRFA)方法,插入测试点。对用LBIST设计的故障检测能力的计算借助故障模拟的帮助完成,它给出了“测试质量”的估计。我们将在下面就此进行更详细的讨论,同时介绍可用来增加LBIST设计中故障检测能力的技术。

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