嵌入式系统/ARM技术中的嵌入式测试方案及高速测试技术

上传:前端小伙 浏览: 18 推荐: 0 文件:PDF 大小:94KB 上传时间:2020-11-10 17:35:13 版权申诉
前言 目前,在许多应用领域,例如处理器、移动电话、调制解调器等产品,SOC技术已经成为主要的研究方向。这类SOC芯片整合了数字逻辑电路、模拟电路、内存模块以及知识产权(IP)核,甚至将微处理器、外围接口、通信模块皆能包括于一芯片中。SOC芯片的应用,对于提升系统性能、减少系统能耗、降低系统的电磁干扰、提高系统的集成度都有很大的帮助,顺应了产品轻薄短小的趋势。 安捷伦公司推出的93000 SOC测试系统,完全满足业界需求,对于高速数字电路、嵌入式内存、混合信号测试都提出了有效的解决方案。 嵌入式内存测试嵌入式内存是SOC芯片不可或缺的组成部分,因此其测试以及分析的方法也就相当重
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