元器件应用中的热释电效应

上传:loveyhq29073 浏览: 25 推荐: 0 文件:PDF 大小:26.63KB 上传时间:2020-11-26 02:18:23 版权申诉
当一些晶体受热时,在晶体两端将会产生数量相等而符号相反的电荷。这种由于热变化而产生的电极化现象称为热释电效应。 通常,晶体自发极化所产生的束缚电荷被空气中附集在晶体外表面的自由电子所中和,其目发极化电矩不能显示出来。当温度变化时,晶体结构中的正、负电荷重心产生相对位移,晶体自发极化值就会发生变化,在晶体表面就会产生电荷耗尽。 能产生热释电效应的晶体称为热释电体,又称为热电元件。热电元件常用的材料有单晶(LiTaO3等)、压电陶瓷(PZT等)及高分子薄膜(PVF2等)。 如果在热电元件两端并联上电阻,当元件受热时,则电阻上就有电流流过,在电阻两端也能得到电压信号。
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