RFID技术中的射频(RF)测试的应用

无论你是利用III-V簇晶圆生产用于手机配件的RF芯片,还是利用硅技术生产高性能模拟电路,在研发和生产中预测最终产品的性能和可靠性,都需要晶圆级RF散射参数(s)的测量。这些测试对DC数据是重要的补充,相对于单纯的DC测试,它用更少的测试却能提供明显更多的信息。实际上,一个两通道的s参数扫描能同时提取阻抗和电容参数,而采用常规DC方法,则需要分开测试,甚至需要单独的结构以分离工艺控制需要的信息。功放RF芯片的功能测试是这种性能的另外一种应用。这些器件非常复杂,然而价格波动大。生产中高频低压的测试条件排除了通常阻碍晶圆级测试的功耗问题。也不存在次品器件昂贵的封装费用。已知良品芯片技术也可以应用于