X射线无损检测的GIS设备缺陷检测研究

上传:SunGis 浏览: 22 推荐: 0 文件:PDF 大小:1.78MB 上传时间:2021-02-01 08:14:44 版权申诉
GIS设备出现缺陷会导致变电站发生事故,给电网带来巨大经济损失。针对目前变电站大规模的人工巡检存在着效率低下、易漏检等问题。文中对X射线无损检测得到的GIS设备图片进行研究。对获得的GIS图片进行恰当预处理,提出一种改进的FCM算法进行分割,在传统的FCM分割算法基础上,引入非隶属度、不确定度且结合图像的领域信息进行分割GIS设备图像,采用SVM分类器进行缺陷检测。实验表明,此方法缺陷检测率能达到90%以上。
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