光学薄膜吸收损耗的研究

上传：hdnzb 浏览： 16 推荐： 0 文件：PDF 大小：3.57MB 上传时间：2021-02-09 21:07:36 版权申诉

用横向光热偏转技术研究光学薄膜的吸收损耗.结果表明:对ZrO2、MgF2、ZnS等单层膜,薄膜-基底界面吸收、空气-薄膜界面吸收以及薄膜体内吸收三者处于同一量级,而对TiO2、Ta2O5、SiO2等样品,薄膜-基底界面吸收远大于空气-薄膜界面吸收及薄膜体内吸收,是吸收损耗的主要来源.