箱式屏蔽效能测试方法及影响因素分析

为测试强电磁场作用下材料的屏蔽效能,基于屏蔽材料的屏蔽原理,提出一种在GTEM室内置屏蔽箱测试材料屏蔽效能的新方法,构建实验平台,仿真分析屏蔽箱窗口尺寸及测试探头位置对测试结果的影响.实验结果表明:测试窗口大小和测试位置对测试材料的屏蔽效能有影响.其主要影响因素是屏蔽效能的测试频率下限,并确定了0.6m×0.6m窗口的测试频率下限为55 MHz,0.3m×0.3 m测试窗口的测试频率下限为250 MHz.