基于正弦相位调制的光学相干层析成像技术研究

光学相干层析成像(OCT)作为一种新型的成像技术, 已广泛应用于临床检查, 但成像速度和分辨率较低。为了提高系统的成像速度及分辨率, 提出一种基于低速面阵CCD高速图像传感的正弦相位调制OCT检测技术。在迈克耳孙干涉仪参考镜的背面粘贴一个压电陶瓷(PZT), 加一正弦相位信号控制PZT的振动, 使参考镜沿光轴方向连续改变参考臂的光程, 对样品进行深度扫描; 推出了基于正弦相位调制的OCT干涉信号光强表达式, 并对其成像技术进行了讨论; 因PZT连续移相, 面阵CCD同一像素可探测物体内部断层结构。因此, 该技术利用面阵CCD能得到被测样品内部断层结构信息。该技术无需步进移动参考镜和横向机械扫描, 具有成像速度快、灵敏度高、信噪比高、成本低廉等优点。