太赫兹时域差分时域光谱法测量金属薄膜的光学常数

制作了三种不同厚度的纳米级金属膜(Cr,Ni和Ti)。 通过使用THz时域差分时域光谱法(THz-DTDS)定量测量三种金属膜的复折射率。 金属薄膜的复折射率的阶数等于报道值的阶数。 我们的结果验证了THz-DTDS可用于研究超薄金属膜的特性。