计算机制全息图的二值化噪声及取样影响
对用于超大规模集成电路光学互连的计算机制全息图(CGH)的量化噪声及取样影响进行了分析.CGH透过率函数的二值化将带来一些噪声,但仍可得到高的信噪比.在光学互连CGH的结构是菲涅耳波带片的条件下,对Nyquist和Whittaker-Shannon两种取样方法进行了分析和比较.结果表明,在小偏转角和高取样频率条件下,用Whittaker-Shannon取样方法得到的衍射效率比用Nyquist取样方法所得到的衍射效率大.
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